Analysis services|受託分析サービス一覧
ユーロフィンEAGで実施している分析サービスの一覧です。
取り扱いサービスの種類が多いため、こちらには主要サービスのみ掲載しています。
掲載がないサービスがにつきましては弊社までお問合せください。
Advanced Microscopy
微小領域 / 形態分析
形態観察 / 組成分析
- TEM/STEM (透過型電子顕微鏡分析)
- TEM/STEM-EDS/EELS
(TEM/STEM-エネルギー分散型X線分光法/電子エネルギー損失分光法) - FIB-SEM/三次元再構築(集束イオンビーム加工装置搭載型電子顕微鏡分析)
- SEM/断面SEM(走査型電子顕微鏡分析)
- SEM-EDS(SEM-エネルギー分散型X線分光法)
- 3D-APT(三次元アトムプローブ)
- AFM/SPM(原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)
- LSM/OP(レーザー顕微鏡/白色干渉計)
結晶性分析 / 構造評価
Enhanced SIMS
二次イオン質量分析法
Surface Analysis
各種表面分析
表面分析
- XPS/ESCA (X線光電子分光法)
- AES(オージェ電子分光法)
- XRF(蛍光X線分析)
薄膜分析
深さ方向分析
- LA-ICP-MS(レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析)
- LIBS(レーザー誘起ブレークダウン分光分析)
- XPS Depth analysis(X線電子分光法を用いた深さ方向分析)
- AES Depth analysis(オージェ電子分光法を用いた深さ方向分析)
- TOF-SIMS Depth analysis(飛行時間型二次イオン分析を用いた深さ方向分析)
- SR(拡がり抵抗測定法)
結晶性分析 / 構造評価
有機汚染分析
金属汚染分析
Puarity Analysis
純度分析
バルク材料の不純物分析
- GDMS(グロー放電質量分析)
- IGA(ガス成分分析)
- ETV-ICP-OES分析(電熱加熱気化法を用いた誘導結合プラズマ発光分析)
- GD-OES(グロー放電発光分析)
バルク材料・液体の主成分 / 不純物分析
Failere Analysis
非破壊解析 / 故障解析
非破壊解析
- 3D-XCT(三次元X線CT解析)
- 2D-Xray(透過X線解析)
- C-SAM(超音波顕微鏡解析)
故障解析
- 電子部品 / 機器の故障解析
- 電子部品 / 機器の良品検査
- 金属の故障解析(腐食・劣化調査)
Reliability Test
信頼性評価 / 環境試験
封止パッケージ(半導体 / 電子デバイス / その他)の信頼性評価
温湿度試験
耐環境性試験
機械強度試験
- 振動試験
- 微加振試験
- 温湿度・振動複合環境試験
- 大型3軸同時振動試験機
- 引張・圧縮試験
リチウムイオンバッテリー試験
- 釘刺し試験