CT-X線、TOF-SIMS、SEM-EDXを用いた医薬品の内部分析の事例を追加

ユーロフィン分析科学研究所では、医薬品の製剤開発支援サービスとして、非破壊分析、イメージング解析、デフォーミュレーションの受託が可能です。

今回、非破壊分析であるCT-X線、SEM-EDX、TOF-SIMSを用いた医薬品の内部分析の3事例を追加しました。

CT-X線は、医薬品の非破壊分析において、製造工程時や市販後に起きたトラブルの原因究明に、よく使われている手法です。

製造時期の異なるカプセルを評価した事例、錠剤内部の亀裂を観察した事例、錠剤および粒子の膜厚を測定した事例を紹介しています。

TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) は、固体試料表面にイオンビームを照射し、その表面から放出される二次イオンの質量飛行時間差を利用して分離検出する手法です。

医薬品製剤開発において、成分分布の評価・同定、錠剤評価、多層コーティング粒子評価、製品調査と幅広い用途で利用されています。

TOF-SIMSの事例として、API（有効成分）や添加剤を可視化した、錠剤内部の成分分布の評価を紹介しています。

SEM (Scanning Electron Microscopy) は、電子線を試料表面上に走査させて照射し、試料表面から放出される二次電子や反射電子と検出することで、試料を観察できます。

EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) は、電子線照射により発生する特性X線を検出し、元素分析や組成分析を行えます。

医薬品製剤開発において、錠剤内部観察、元素分布、錠剤評価、多層コーティング粒子評価等の用途で利用されています。

SEM-EDXの事例として、錠剤の内部観察及び元素分布確認を紹介しています。

ぜひ、3事例をご参考になさってください。

医薬品の製剤開発支援サービスの詳細情報は、下記のページをご覧ください。

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